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ENCICLOPEDIA DELLA RADIOELETTRONICA ED ELETTRICA Tester per diodi e transistor bipolari. Enciclopedia dell'elettronica radio e dell'ingegneria elettrica
Enciclopedia della radioelettronica e dell'elettrotecnica / Tecnologia di misurazione La maggior parte dei moderni tester (multimetri) ha funzioni integrate per testare diodi e talvolta transistor. Ma se il tuo tester non ha queste funzioni, puoi assemblare un tester per diodi e transistor con le tue mani. Di seguito è riportato un progetto di tester basato sul microcontrollore PIC16F688. La logica per testare i diodi è molto semplice. Un diodo è una giunzione PN nota per condurre corrente solo in una direzione. Pertanto, un diodo funzionante condurrà la corrente in una direzione. Se il diodo conduce corrente in entrambe le direzioni, il diodo non è operativo - rotto. Se il diodo non conduce in nessuna delle due direzioni, anche il diodo non funziona. L'implementazione circuitale di questa logica è mostrata di seguito.
Questa logica può essere facilmente adattata per testare transistor bipolari, che contengono due giunzioni PN: una tra la base e l'emettitore (giunzione BE) e la seconda tra la base e il collettore (giunzione BC). Se entrambe le giunzioni conducono corrente in una sola direzione il transistor funziona, altrimenti non funziona. Possiamo anche identificare il tipo di transistor pnp o npn determinando la direzione di conduzione della corrente. Per testare i transistor, il microcontrollore utilizza 3 ingressi/uscite
Sequenza di test del transistor: 1. Attivare l'uscita (impostata su uno) D2 e leggere D1 e D3. Se D1 è logico, la giunzione BE conduce corrente, altrimenti no. Se D3 è 1, allora il BC conduce corrente, altrimenti no.
Inoltre, se BE e BC conducono corrente, il transistor è di tipo NPN e funziona. Se EB e CB conducono corrente, anche il transistor è di tipo pnp e funziona. In tutti gli altri casi (ad esempio, EB ed EB conducono corrente o entrambe le transizioni BC e CB non conducono, ecc.) il transistor non è funzionante. Schema e descrizione del circuito del tester di diodi e transistor
Il circuito del tester è molto semplice. Il dispositivo dispone di 2 pulsanti di controllo: Seleziona e Dettagli. Premendo il pulsante Select si seleziona il tipo di test: test diodi o transistor. Il pulsante Dettagli funziona solo in modalità test transistor; lo schermo LCD mostra il tipo di transistor (npn o pnp) e lo stato di conduttività delle transizioni dei transistor. Le tre gambe del transistor in prova (emettitore, collettore e base) sono collegate a terra tramite un resistore da 1 kΩ. Per il test vengono utilizzati i pin RA0, RA1 e RA2 del microcontrollore PIC16F688. Per testare il diodo vengono utilizzate solo due uscite: E e K (contrassegnate D1 e D2 nel diagramma).
Programma Il software per questo progetto è scritto utilizzando il compilatore MikroC. Durante il collaudo e la programmazione prestare attenzione e seguire le impostazioni degli ingressi/uscite dell'MK (RA0, RA1 e RA2). cambiano spesso durante il funzionamento. Prima di impostare qualsiasi uscita su 1, assicurarsi che gli altri due I/O dell'MCU siano definiti come ingressi. In caso contrario, sono possibili conflitti di ingressi/uscite dell'MK.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Autore: Koltykov AV; Pubblicazione: cxem.net
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