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ENCICLOPEDIA DELLA RADIOELETTRONICA ED ELETTRICA
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Attacco per un oscilloscopio. Enciclopedia dell'elettronica radio e dell'ingegneria elettrica

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Enciclopedia della radioelettronica e dell'elettrotecnica / Tecnologia di misurazione

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Un semplice prefisso, il cui diagramma schematico è mostrato in fig. 1 consente di valutare la qualità di transistor e diodi a semiconduttore, condensatori, resistori, potenziometri e induttori, verificare se sono presenti interruzioni nei circuiti, lo stato di salute di interruttori, relè e trasformatori con resistenza dell'avvolgimento fino a 100 kΩ.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.1

Quando il set top box è collegato alla rete e il pulsante Kn1 è aperto, la tensione tra i terminali 2 e 3 sarà uguale alla tensione sul secondario del trasformatore Tr, poiché la corrente non scorre attraverso la resistenza R1 e non c'è caduta di tensione su di esso.

Se i terminali 2 e 3 sono in cortocircuito (indicato da una freccia nel diagramma), allora tutta la tensione del secondario verrà applicata ai terminali 1 e 2. Se vengono aperti e viene premuto il pulsante di calibrazione Kn1, allora il la tensione dell'avvolgimento secondario sarà equamente distribuita tra i terminali 1-2 e 2-3.

Il prefisso è allegato all'oscilloscopio, come mostrato in Fig. 2. La scansione interna dell'oscilloscopio è disattivata. Regolando il movimento del fascio di elettroni attraverso lo schermo, nonché l'amplificazione dei canali orizzontale e verticale con il pulsante Kn1 chiuso, si ottiene sullo schermo dell'oscilloscopio una linea posta ad un angolo di 45° rispetto all'orizzontale (Fig. 2, a), lungo la lunghezza che si avvicina alla metà del diametro dello schermo.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.2

Se apri il pulsante Kn1 e chiudi i morsetti 2-3, sullo schermo apparirà una linea retta verticale (Fig. 2, b), se sono aperti apparirà una linea retta orizzontale (Fig. 2, c).

L'elemento in prova è collegato ai morsetti 2-3. La natura dell'immagine sullo schermo dell'oscilloscopio è determinata dalla dipendenza della resistenza dell'elemento in prova dall'ampiezza e dalla polarità della tensione sinusoidale ad esso fornita.

diodi a semiconduttore. Quando si testa un diodo a semiconduttore, è collegato come mostrato in Fig. 3, a. Nel caso in cui il diodo sia di buona qualità, l'immagine mostrata in fig. 3b; se la polarità di connessione è invertita, l'oscillogramma verrà invertito (Fig. 3, c). Se la parte superiore dell'angolo dello schermo è arrotondata, o uno dei suoi lati è molto più grande dell'altro, o la direzione delle linee rette è molto diversa da quella orizzontale e verticale, il diodo dovrebbe essere rifiutato.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.3

I diodi zener al silicio sono collegati allo stesso modo di tutti gli altri diodi. Quando la tensione di stabilizzazione è inferiore a 10 V, sull'immagine apparirà un segno a forma di linea verticale (Fig. 3, d).

I raddrizzatori al selenio sono collegati allo stesso modo dei diodi a semiconduttore. Una tipica forma d'onda è mostrata in fig. 3e. Il raddrizzatore al selenio testato può essere rifiutato se l'angolo sullo schermo ha un lato verticale molto corto o molto piatto.

Quando i diodi tunnel sono collegati, sullo schermo appare un'immagine (Fig. 3, f) sotto forma di due linee quasi verticali con un'interruzione nel mezzo. Se ora aumentiamo il guadagno lungo l'asse "X", l'immagine sullo schermo cambierà (Fig. 3, g). Sulla fig. 3h mostra come sono collegati i diodi controllati al silicio. L'elettrodo di controllo rimane libero. L'immagine che compare in questo caso è mostrata in fig. 3, i.

Potrebbe esserci una leggera deviazione della linea da una linea retta. Se l'elettrodo di controllo è collegato a terra, l'immagine sarà diversa (Fig. 3, j).

transistor. I transistor in prova sono collegati secondo il circuito mostrato in fig. 4, a. La base non è collegata a nulla. Sullo schermo dovrebbe apparire una linea orizzontale diritta o leggermente ondulata. Se la linea è piegata, il transistor ha parametri instabili. Quando c'è un cortocircuito nel transistor, la linea sarà verticale.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.4

Se si tocca l'uscita della base sul terminale 2, dovrebbe apparire un oscillogramma come in Fig. 4, b (per transistor p-n-p) e come in fig. 4, c (per n-p-n). Il collegamento del terminale di base con il morsetto 3 provoca il fenomeno opposto (Fig. 4, b - per n-p-n e Fig. 4, c - per p-np).

Supponiamo che, in uno di questi due casi, l'immagine non assomigli ad un angolo retto. Quindi il transistor è rotto. Se l'immagine è fortemente distorta, i parametri del transistor sono instabili. La deviazione dei lati dell'angolo dall'orizzontale e dalla verticale indica transizioni di scarsa qualità.

Resistori e condensatori. Poiché l'immagine corrispondente ai terminali aperti 2 e 3 (la resistenza è infinita) è una linea orizzontale e chiusa (la resistenza è zero) - verticale, il valore della resistenza intermedia corrisponderà a . un'immagine di una linea retta con un certo angolo di inclinazione. Sulla fig. 5 mostra un grafico che mostra la dipendenza dell'angolo di inclinazione di una retta, rispetto all'orizzontale, dalla resistenza di un resistore collegato tra i terminali 2 e 3.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.5

L'uscita centrale del potenziometro e una delle estremità sono collegate tra i terminali 2 e 3. Quando si ruota la manopola del potenziometro, sullo schermo dell'oscilloscopio deve essere osservata un'immagine a forma di linea retta rotante. Una rotazione irregolare della linea retta indica una scarsa qualità del contatto mobile. La resistenza di un resistore può essere determinata utilizzando il grafico di Fig. 5.

Le fotoresistenze sono collegate tra i morsetti 2 e 3. Se lo strato sensibile della fotoresistenza è chiuso dalla luce, l'immagine appare come una linea retta orizzontale o leggermente inclinata. Quest'ultimo significa che la resistenza al buio è elevata. Quando la fotoresistenza è illuminata, la linea retta dovrebbe assumere una posizione prossima alla verticale. I valori di resistenza possono essere determinati utilizzando un grafico (Fig. 5). L'entità della resistenza può essere valutata anche dall'illuminazione.

Prima di testare i condensatori, è necessario calibrare il dispositivo, come descritto all'inizio dell'articolo. Successivamente, collega il condensatore tra i terminali 2 e 3. Un condensatore di alta qualità dovrebbe corrispondere a un'immagine a forma di ellisse. Conoscendo il rapporto tra le lunghezze degli assi orizzontale e verticale dell'ellisse, è possibile utilizzare il grafico (Fig. 6) per determinare la capacità del condensatore. Con una capacità di 1,1 µF, il rapporto assiale è 1 e l'ellisse diventa un cerchio.

Attacco all'oscilloscopio
Ris.6

Induttori, trasformatori, relè. L'induttore è collegato ai terminali 2 e 3. Con un'induttanza fino a 5 H, l'immagine apparirà come un'ellisse, il cui asse maggiore è inclinato rispetto alla verticale. Con un valore di induttanza di circa 5 H l'ellisse diventa un cerchio, mentre con un valore di induttanza maggiore di 5 H l'asse maggiore dell'ellisse è inclinato rispetto all'orizzontale.

Questo metodo di misurazione dell'induttanza non è particolarmente accurato, poiché l'immagine sullo schermo dipende dalla capacità da giro a giro, dalla resistenza dell'avvolgimento, ecc.

Confrontando l'immagine corrispondente alla bobina in prova con l'immagine di una bobina ben nota, si può capire se ci sono spire in cortocircuito o meno.

Poiché la bassissima resistenza tra i terminali 2 e 3 fornisce un'immagine di linea verticale sullo schermo, l'accessorio può essere utilizzato anche per testare relè, interruttori, nonché per rilevare rotture nei circuiti, negli avvolgimenti dei trasformatori, ecc. Va notato che a causa della varia distorsione di fase negli amplificatori di deflessione orizzontale e verticale dell'oscilloscopio, potrebbe esserci una biforcazione di linee sullo schermo.

Utilizzando il dispositivo descritto, è possibile determinare quanto le capacità dei condensatori o le resistenze dei resistori differiscono dal valore nominale.

Letteratura

  1. "Radioelettronica", 1965, n. 11

  2. Radio n. 7 1966, c.56-57

Pubblicazione: N. Bolshakov, rf.atnn.ru

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